Audi Workshop Service and Repair Manuals

Instrument Cluster: Initial Inspection and Diagnostic Overview
General Information

Instrument cluster, On Board Diagnostic (OBD)

General note

Technical features of the instrument cluster

The instrument cluster is controlled by a microprocessor and has extensive On Board Diagnostic (OBD) capabilities. If malfunctions occur at system
components, Diagnostic Trouble Code (DTC) are stored in DTC memory of the instrument cluster. Malfunction can be determined via VAS5051 tester.

Detailed information For instrument cluster and For selection menu

Instrument cluster with standard service reminder indicator

In countries such as the USA, in which the standard SRI is kept, the following adaptation values must be entered in function 10 Adaptation.

Channel 42 (minimum mileage performance)

10000 mi

Channel 43 (maximum mileage performance)

10000 mi

Channel 44 (maximum time interval until next service) 365 days
Channel 45 (oil quality)

1

Malfunction message "dEF" on trip odometer display

If the control module in the instrument cluster detects a malfunction in its permanent memory, the letters "dEF" will appear on the trip odometer display.

-

If "dEF" is indicated on display, replace instrument cluster:

Notes For replacing instrument cluster

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Do not disassemble instrument cluster.

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If necessary, instrument cluster should be replaced through the exchange loop.

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Fill out a damage report Form and return together with malfunctioning instrument cluster.

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Malfunctioning units must always be returned in original packaging.

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The odometer and the Service Reminder Indicator (SRI) of the replacement instrument cluster can be adapted using the VAS5051 Scan Tool (ST).